MSE核心澳门威尼斯人注册网站研究设施
材料科学与工程核心澳门威尼斯人注册网站研究中心于2012年6月正式投入使用。从那时起,它已经发展成为材料科学与工程和光子学中心社区的多个核心设备。
地址:8圣玛丽街,房间603和605,波士顿,MA 02215实验室监督:教授大卫主教,djb1@bu.edu,电话:(617)358-4080
NMB设计公司的新型脉冲激光沉积(PLD)系统于2024年秋季抵达。
NMB新购买的脉冲激光沉积(PLD)系统支持晶体衬底上的外延氧化物生长,6个目标,1000摄氏度衬底加热,原位RHEED和负载锁定。
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Jeremy Reeves (Bishop教授小组的博士后助理)正在使用FEI FIB系统制作MEMS结构。
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FEI Osiris TEM/STEM显微镜
用于纳米尺度的微观结构澳门威尼斯人注册网站研究
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脉冲激光沉积(PLD)系统
这种先进的设备使我们能够在校园内种植高质量的氧化薄膜,为我们的澳门威尼斯人注册网站和学生开辟了一个澳门威尼斯人注册网站研究机会的世界。由Soumendra Basu教授和博士候选人Emily Ghosh发起,由光子学中心和MSE的Paul Mak维护,任何人都有机会购买自己的材料并种植自己的薄膜。
Basu教授分享说:“这种设备有许多应用,许多教职员工和澳门威尼斯人注册网站研究人员正在从事不同的项目,这些项目将从手头的这种资源中受益匪浅。”
澳门威尼斯人注册网站研究生将被培养成“超级用户”,帮助新用户入门,在我们的光电澳门威尼斯人注册的指导下。特别向Emily Ghosh和Basu教授致敬,感谢他们的辛勤工作,将这项尖端技术引入我们的部门!
请继续关注这一令人兴奋的补充的更多更新。如有疑问,请通过basu@bu.edu联系巴苏教授。
澳门威尼斯人注册PLD系统的更多信息:
脉冲激光沉积(PLD)是一种在超高真空条件下制备高质量薄膜的物理气相沉积技术。高功率脉冲激光用于烧蚀目标材料,形成目标材料的蒸汽羽流。羽流与室中定制的气体环境相互作用,产生材料的等离子体,然后沉积在基材上形成薄膜。
该技术允许广泛的复杂材料的薄膜沉积,例如固体氧化物电池电极中使用的复杂氧化物,否则使用其他物理气相沉积技术不容易制造。
原位表征技术,如反射高能衍射(RHEED),可以与沉积结合使用,以提供有关薄膜生长机制的实时信息。
布鲁克x射线系统
两个
布鲁克x射线系统已获得由路德维希教授领导的NSF MRI奖,并可供澳门威尼斯人注册网站使用。Jeffrey Bacon博士(化学)
(jwbacon@bu.edu)负责这两个系统的培训和维护。N8地平线和D8发现系统是互补的,并允许小角度和广角x射线散射(SAXS和WAXS)。
的
N8地平线该系统由布鲁克公司于2012年推出,是美国首批安装的此类系统之一。该仪器是为紧凑的空间设计的,具有传输和放牧入射SAXS能力。
D8发现wax系统
D8 Discover是一个非常通用的WAXS系统,具有一般x射线衍射(XRD),高分辨率XRD,互易空间映射,掠入射衍射,x射线反射率,极图分析和样品加热(1000°C)功能。
蔡司Xradia 410 Versa系统
蔡司Xradia 410 Versa系统是由Elise Morgan教授(ME, BME, MSE) (efmorgan@bu.edu)通过单独的NSF MRI奖获得并建立的。该工具弥补了高性能x射线显微镜(XRM)和较弱的计算机断层扫描(CT)系统之间的差距。该系统可在亚微米以下的多个长度尺度上对材料微观结构进行定量的三维表征,包括孔隙度、密度、表面积和三维连通性等拓扑指标。
AFM-FM显微镜
安置在核心设施的AFM-FM显微镜目前正在通过Bennett Goldberg教授(物理学,BME, ECE, MSE)领导的第三个NSF MRI奖进行重大改进。与收容所一起,该系统正在与拉曼光谱进行改造,以增强尖端能力。
雷尼绍拉曼显微镜
AFM旁边是一个新的雷尼绍拉曼显微镜系统,包括一个加热/冷却阶段和多个波长的拉曼观察。该工具是通过光子学中心资本设备委员会购买的,并向所有光子学和材料科学与工程学院开放。
聚焦离子束/透射电子显微镜设备
在光子学中心的地下室里
聚焦离子束/透射电子显微镜设备由两个600平方英尺的实验室组成,由Alexey Nikiforov博士(光子学)(
alnik@bu.edu). 该实验室拥有最近购买的FEI Quanta 3D FEG FIB(场发射枪聚焦离子束)系统和FEI Tecnai Osiris 200kV S/TEM(扫描/透射电子显微镜)。
FEI Quanta 3D FEG FIB是一种强大的扫描电子显微镜(SEM)成像工具,可以帮助在微/纳米尺度上去除和沉积材料,在HiVac模式下分辨率为1.2 nm,在LoVac模式下分辨率为2.9 nm,在FIB柱上分辨率为7 nm。该系统包括气体注入器模块(GIS)和Omniprobe显微操作器,可用于TEM样品制备和提取。Peltier/加热阶段控制套件允许在不同湿度(高达100% RH)和温度(-10°C至1000°C)下澳门威尼斯人注册网站研究材料的原位动态行为。
FEI Tecnai Osiris 200V S/TEM
FEI Tecnai Osiris 200V S/TEM是一种通用的扫描透射电子显微镜,允许亮场/暗场成像,选择区域和会聚光束衍射,以及高分辨率成像,点对点分辨率为0.25nm,线分辨率为0.102 nm,使用TrueImage™软件扩展到0.16 nm, STEM分辨率为0.18 nm。系统可以在TEM和STEM模式之间无缝切换。该系统还包括用于成分分析和制图的能量色散x射线(Super-X EDX)功能,以及用于轻元素量化和制图的带有电子能量损失谱的能量过滤TEM (Gatan EELS)功能。
样品准备室
一个新的样品制备室制备用于透射电镜的电子透明样品目前正在运作,并向所有光子学和材料科学与工程学院开放。通过在光子学中心购买设备,a
磨床、截锯、圆盘切割机、自动抛光研磨设备、研磨机、离子磨机都安装好了。
材料加工区由两个专用于酸和碱处理的通风柜组成。在此房间内提供桌子空间,以便样品制备和烤箱使用(如果适用)。